Antennes Nearfield Probe pour des mesures de précision jusqu'à 500 GHz
Les antennes nearfield probe basées sur waveguide offrent une couverture de fréquence complète s'étendant jusqu'à 500 GHz. Ces instruments de mesure spécialisés permettent une caractérisation précise des champs électromagnétiques sur l'ensemble du spectre RF et mmWave, répondant à la demande croissante de diagnostics nearfield précis dans les applications avancées de télécommunications et de défense.
Les antennes nearfield probe représentent un composant essentiel dans les systèmes de mesure d'antennes, permettant aux ingénieurs d'évaluer la distribution des champs, les effets de couplage et les diagrammes de rayonnement avec une haute résolution spatiale. La gamme de fréquences étendue positionne ces probes comme des outils indispensables pour les initiatives de recherche émergentes en 5G, 6G et sub-THz.
Spécifications techniques
- Gamme de fréquences : 26,5 GHz à 500 GHz en couverture continue
- Configurations Waveguide : Tailles standard WR28 à WR2.2 pour une opération pleine bande
- Capacité de mesure : Échantillonnage nearfield direct avec perturbation minimale de la probe
- Options de connecteurs : Interfaces waveguide compatibles avec les équipements de test standards
- Adaptabilité environnementale : Multiples options de plaquage incluant or, nickel et revêtements spécialisés
- Flexibilité mécanique : Géométries de probe personnalisables et mécanismes d'insertion
Applications
- 5G/6G & Télécommunications : Caractérisation de réseaux d'antennes dans les systèmes à réseau phasé
- SATCOM : Validation de composants pour les sous-systèmes de communication par satellite
- Défense & Aérospatiale : Tests de sous-systèmes RF et assurance qualité
- Recherche & Développement : Recherche sub-THz et évaluation de prototypes
La disponibilité d'unités en stock combinée à des délais de livraison rapides garantit une interruption minimale des calendriers de développement. bq-microwave fournit une consultation technique complète pour optimiser la sélection de probes en fonction des exigences de mesure spécifiques, incluant l'allocation de fréquences, les besoins de résolution spatiale et les contraintes environnementales. Contactez-nous pour des spécifications produits détaillées et une assistance applicative.